國際發明展獲獎率高 超額比序捷徑

2014-06-13 00:24

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國中會考爭議多,監委程仁宏指出,許多國際發明展獲獎率高達100%,恐成為「超額比序」捷徑。(資料照片,吳逸驊攝)

國中會考爭議多,監委程仁宏指出,許多國際發明展獲獎率高達100%,恐成為「超額比序」捷徑。(資料照片,吳逸驊攝)

監委程仁宏說,國中教育會考初次上路爭議多,如許多國際發明展獲獎率高達100%,恐成為「超額比序」的捷徑,教育機會將更加M型化,不排除另案調查。

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監察院昨(12)日通過監委趙榮耀、程仁宏、楊美鈴等人所提調查報告,報告指出,國中小學生參加國際發明展的人數,5年內暴增63倍,獲獎率高達100%,但評審機制究竟嚴不嚴格,令人質疑;相較之下,國內全國科學展覽有逐級審認,機制嚴謹,因此獲獎比率僅1.13%。然而國內科展的「超額比序」積分,卻遠低於國際發明展。

監委們指出,發明協會、發明補習班林立,參加國際發明展也所費不貲,約10~20萬左右,此種情勢對經濟弱勢學生非常不利,教育部應關注教育機會M型化發展。

監委們認為,教育部應全面掌握103年免試入學制度已產生的相關問題,並速謀解決之道,建立各免試就學區交流輔導平台制度,以作為修正入學制度之基礎。程仁宏也透露,目前正在蒐集國中會考爭議的相關資料,不排除另外立案調查。

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