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(示意照,中央社)

矽光子產業內鬥升溫!閎康傳向光焱購買設備遭汎銓盯上,專利訴訟爭議延燒

汎銓董事長柳紀綸呼籲光焱積極面對法律問題。汎銓提供

矽光子檢測專利戰升溫,1310、1550奈米成爭點!汎銓:IR CCD量測屬專利範圍 光焱主張技術路線不同