註冊
登入
咖啡贊助
支持我們
常見問題
VIP
新聞
評論
財經
風生活
風影音
支持風傳媒
VIP
新聞
評論
財經
風生活
風影音
支持風傳媒
註冊
登入
咖啡贊助
支持我們
常見問題
註冊
登入
咖啡贊助
支持我們
常見問題
VIP
新聞
評論
財經
風生活
風影音
支持風傳媒
首頁
製程檢測 文章列表
#
製程檢測
約 1 項搜尋結果
日期排序
財經
新聞
商業
經濟
科技
證券投資
產業觀點
AI
比太陽表面亮2倍!KLA以超強光源掃描晶圓,每日4PB資料即時抓缺陷
先進AI晶片結構愈來愈複雜,晶圓檢測設備本身也逐漸成為一套AI超級電腦。KLA(NASDAQ:KLAC)半導體產品與客戶事業總裁Ahmad Khan 2日在SEMICON Taiwan 2026大師論壇指出,KLA高階晶圓檢測設備採用亮度約為太陽表面2倍的客製化光源,一套設備每日可產生約4PB資料,必須在掃描過程中即時完成影像運算及缺陷篩選。Khan表示,A......
魏鑫陽
2026-09-03 01:35
KLA
SEMICON Taiwan 2026
晶圓檢測設備